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物理量・物性評価
分析評価
工業用（専用）測定評価
大塚電子で取扱っている製品で測定可能な項目です。
物理量・物性評価
厚さ計測
膜厚測定、厚さ測定
薄膜解析
膜光学定数（n,k）
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物性･粒子計測
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分析評価
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透過・吸収スペクトル測定
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定性・定量分析
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ガス定性･定量測定
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工業用（専用）測定評価
FPD･光学材料関連
パネル・モジュール測定
セルギャップ測定
膜厚測定
リタデーション波長分散測定
方位角･楕円率測定
配向角（光学軸）の検出
偏光度測定
ツイスト測定
発光測定
分光特性測定
LED発光･色測定
動画ボヤケ時間（MPRT)
半導体関連
膜管理
工業用ガス管理
その他
溶液（濃度･色）測定
濃度管理
色管理
